El margen de error de las mediciones XRF (fluorescencia de rayos X) depende principalmente de varios factores, como el grosor de la muestra, el tamaño del colimador, el tipo de detector utilizado y la calidad de la preparación de la muestra. El espesor mínimo de detección para XRF es de aproximadamente 1 nm, por debajo del cual los rayos X característicos se pierden en el ruido. El rango máximo es de aproximadamente 50um, más allá del cual el espesor del revestimiento se satura, y no se pueden detectar cambios adicionales.
Rango de espesores:
La tecnología XRF puede detectar espesores desde 1 nm hasta 50 um. Por debajo de 1 nm, los rayos X característicos no pueden distinguirse de la señal de ruido, lo que da lugar a mediciones indetectables. Por encima de 50um, el grosor del revestimiento se vuelve demasiado denso para que los rayos X de las capas internas penetren y alcancen el detector, lo que produce un efecto de saturación en el que no se pueden medir más cambios de grosor.Tamaño del colimador:
El colimador, un componente crucial del analizador XRF, determina el tamaño de punto del haz de rayos X. Es esencial que el tamaño del colimador coincida con el tamaño de la muestra que se está midiendo. Si el colimador es demasiado grande, puede incluir la composición del área circundante, afectando a la precisión de la medición. Existen diferentes colimadores para optimizar la precisión en función del tamaño de la muestra, pero la selección también debe tener en cuenta la divergencia del haz que se produce cuando los rayos X atraviesan el colimador.
Selección del detector:
Los instrumentos XRF utilizan contadores proporcionales o detectores basados en semiconductores como los detectores de deriva de silicio (SDD). Los contadores proporcionales están llenos de gas inerte que se ioniza al exponerse a los rayos X, produciendo una señal proporcional a la energía absorbida. Los SDD, por su parte, utilizan materiales semiconductores que generan una carga relacionada con la composición elemental de la muestra al exponerse a los rayos X. La elección del detector depende de las necesidades específicas del análisis, prefiriéndose a menudo los SDD por su mayor resolución y velocidad.Preparación de la muestra:
La preparación de muestras de alta calidad es fundamental para minimizar los errores en el análisis por FRX. Los métodos habituales, como los pellets prensados, se utilizan por su eficacia y rentabilidad. Factores como enfocar la muestra correctamente, alinear la muestra con el tubo de rayos X y el detector, y utilizar un sustrato similar a la pieza que se está midiendo son cruciales para obtener resultados precisos. Una mala alineación o una selección incorrecta del sustrato pueden provocar errores significativos en el análisis.
