La diferencia entre la espectroscopia de energía dispersiva (EDS) y la fluorescencia de rayos X (XRF) radica principalmente en su aplicación, método de detección y escala de análisis. La EDS se utiliza para analizar la composición de microáreas y suele acoplarse a microscopios electrónicos para analizar la composición elemental de áreas muy pequeñas, normalmente del orden de 1 μm. Funciona bombardeando una muestra con haces de electrones en el vacío, estimulando la emisión de rayos X característicos que pueden utilizarse para identificar y cuantificar elementos del B al U en la tabla periódica. El EDS es especialmente eficaz para el análisis cualitativo y semicuantitativo, con un límite de detección del 0,1%-0,5% y un error cuantitativo de aproximadamente el 2% para elementos con números atómicos medios.
Por otro lado, el FRX es un método de ensayo no destructivo utilizado para el análisis de materiales a granel. Utiliza radiación para excitar los átomos de una muestra, haciendo que emitan rayos X secundarios característicos de los elementos presentes. Estos rayos X secundarios se detectan y analizan para determinar la composición elemental de la muestra. El XRF se utiliza ampliamente en diversos campos, como la ciencia de los materiales, la geología y el análisis medioambiental, debido a su capacidad para proporcionar una composición química casi completa sin dañar la muestra. El XRF puede clasificarse a su vez en XRF de dispersión de energía (ED-XRF) y XRF de dispersión de longitud de onda (WD-XRF); este último ofrece mayor resolución, pero es más complejo y caro.
En resumen, la EDS es adecuada para microanálisis detallados, a menudo junto con la microscopía electrónica, centrándose en áreas muy pequeñas y proporcionando un análisis elemental detallado. El XRF, por el contrario, se utiliza para análisis más amplios y no destructivos de muestras más grandes, proporcionando datos exhaustivos de composición elemental en diversas industrias.
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