La principal diferencia entre las técnicas de fluorescencia de rayos X (XRF) y difracción de rayos X (XRD) radica en su método de funcionamiento y en el tipo de información que proporcionan sobre un material. La FRX se utiliza principalmente para determinar la composición elemental de los materiales, mientras que la DRX se emplea para caracterizar la estructura cristalina de los materiales.
Técnica XRF:
El XRF funciona bombardeando una muestra con rayos X, lo que hace que la muestra emita radiación fluorescente. Cada elemento de la muestra produce un espectro único de radiación fluorescente, lo que permite identificar y cuantificar los elementos presentes. Esta técnica no es destructiva y puede analizar materiales a granel, por lo que resulta adecuada para una amplia gama de aplicaciones, como el control de calidad en aleaciones metálicas, el análisis del azufre en la gasolina y la detección de metales pesados en plásticos y productos electrónicos. La preparación de muestras para XRF suele implicar la creación de gránulos de muestra generales utilizando una prensa hidráulica para mantener la integridad de la muestra.Técnica de DRX:
La DRX, por su parte, utiliza rayos X para analizar la estructura cristalina de los materiales. Se basa en la Ley de Bragg, que describe cómo los rayos X son difractados por las capas atómicas de un cristal. El patrón de difracción producido por la DRX puede utilizarse para identificar y caracterizar compuestos basándose en sus propiedades estructurales únicas. La DRX es especialmente útil para estudiar el grado de orden o desorden en las colocaciones atómicas dentro de un material. En el caso de las películas finas, la DRX puede adaptarse para utilizar la tecnología de incidencia rasante (GIXRD), que hace que la técnica sea sensible a la superficie, permitiendo el análisis de estructuras a escala nanométrica.
Resumen:
