La alternativa al XRF (fluorescencia de rayos X) para el análisis elemental incluye técnicas como la espectrometría de emisión óptica (OES) y la espectrometría de ruptura inducida por láser (LIBS). Estos métodos pueden analizar directamente las piezas de trabajo sin una preparación exhaustiva de la muestra, pero tienen limitaciones en comparación con el FRX. La OES y la LIBS pueden dejar marcas visibles en las muestras, lo que puede ser un inconveniente cuando es crucial preservar la integridad de la pieza de trabajo.
Espectrometría de emisión óptica (OES):
La OES es una técnica que utiliza la luz emitida por átomos excitados para determinar la composición elemental de un material. Es especialmente útil para detectar elementos con números atómicos bajos y puede proporcionar un análisis cuantitativo preciso. Sin embargo, OES requiere una chispa para excitar los átomos, lo que puede causar daños físicos a la muestra, haciéndolo menos adecuado para pruebas no destructivas.Espectrometría de descomposición inducida por láser (LIBS):
La LIBS utiliza un pulso láser de alta potencia para crear un microplasma en la superficie de la muestra, que emite luz. El espectro de esta luz se analiza a continuación para determinar la composición elemental. La LIBS es ventajosa por su capacidad para analizar sólidos, líquidos y gases sin una preparación significativa de la muestra. Sin embargo, al igual que el OES, puede dejar marcas en la muestra debido al impacto del láser de alta energía.
