Cuando se trata de análisis elemental, la fluorescencia de rayos X (XRF) es una opción popular.
Sin embargo, existen técnicas alternativas que también pueden proporcionar información valiosa.
Estas alternativas incluyen la espectrometría de emisión óptica (OES) y la espectrometría de ruptura inducida por láser (LIBS).
Tanto la OES como la LIBS pueden analizar piezas sin necesidad de una preparación exhaustiva de la muestra.
Pero tienen sus propias limitaciones en comparación con el XRF.
¿Cuál es la alternativa al FRX? Explicación de 3 técnicas clave
1. Espectrometría de emisión óptica (OES)
La OES utiliza la luz emitida por los átomos excitados para determinar la composición elemental de un material.
Es especialmente útil para detectar elementos con números atómicos bajos.
La OES puede proporcionar análisis cuantitativos precisos.
Sin embargo, la OES requiere una chispa para excitar los átomos.
Esta chispa puede causar daños físicos a la muestra.
En consecuencia, la OES es menos adecuada para los ensayos no destructivos.
2. Espectrometría de descomposición inducida por láser (LIBS)
La LIBS utiliza un pulso láser de alta potencia para crear un microplasma en la superficie de la muestra.
El espectro de la luz emitida por este microplasma se analiza a continuación para determinar la composición elemental.
La LIBS es ventajosa por su capacidad para analizar sólidos, líquidos y gases sin una preparación significativa de la muestra.
Sin embargo, al igual que la OES, la LIBS puede dejar marcas en la muestra debido al impacto del láser de alta energía.
3. Fluorescencia de rayos X (XRF)
El XRF sigue siendo el método preferido para muchas aplicaciones.
Esto se debe a su naturaleza no destructiva y a sus amplias capacidades analíticas.
XRF puede analizar muestras sin alterar sus propiedades físicas.
Esto lo hace ideal para industrias en las que es fundamental preservar la integridad de los materiales.
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