Aprenda sobre los precursores CVD: compuestos volátiles que entregan átomos para formar películas delgadas. Descubra su función, propiedades ideales y cómo elegir el adecuado.
Descubra por qué el GFAAS ofrece límites de detección entre 100 y 1000 veces más bajos que el AAS de llama, utilizando un volumen de muestra mínimo para un análisis preciso de elementos traza.
Aprenda los principios fundamentales de la GFAAS: atomización controlada en un tubo de grafito y absorción precisa de la luz para una sensibilidad de partes por mil millones.
El tamaño del punto de XRF varía de 20 mm a 50 µm. Aprenda cómo seleccionar el tamaño correcto para el análisis a granel, de superficie o micro de sus materiales.
La capacidad calorífica de la alúmina es de 0.880 J/g-°C. Descubra cómo su sinergia con una alta conductividad térmica y una baja expansión permite una resistencia superior al choque térmico.
Conozca los factores clave que afectan la vida útil de la fibra cerámica, desde la temperatura hasta el ataque químico, y descubra cómo prolongar su vida útil en su aplicación.
Descubra cómo la fibra cerámica proporciona un aislamiento térmico, resistencia eléctrica y estabilidad excepcionales en entornos extremos que superan los 1260 °C.
Descubra por qué la ICP-MS ofrece la mayor sensibilidad para el análisis elemental, detectando niveles de partes por billón, y cómo se compara con GFAAS, SIMS y NAA.
Explore las desventajas clave del análisis por FRX, incluidos los límites de detección de elementos ligeros, los efectos de matriz y los desafíos de la preparación de muestras.
Aprenda por qué la FRX no puede detectar elementos ligeros como H, He, Li, Be, B, C, N, O y F debido a la física fundamental y a los problemas de absorción de la señal.
Descubra cómo la FRX sirve como herramienta tanto cualitativa como cuantitativa, desde la identificación rápida de elementos hasta la medición precisa de concentraciones.
Conozca los 4 componentes esenciales de un espectrómetro IR: fuente, interferómetro, muestra y detector. Entienda cómo funciona el FTIR para un análisis químico preciso.
Aprenda cómo funciona la espectroscopia FTIR para identificar materiales desconocidos y confirmar la composición química a través de patrones únicos de absorción infrarroja.
El FTIR lee las vibraciones moleculares midiendo la absorción de luz infrarroja, proporcionando una huella química única para la identificación y el análisis de materiales.
Explore las diversas aplicaciones de la espectroscopia FTIR para la identificación de materiales, el control de calidad y el análisis en productos farmacéuticos, ciencias forenses y más.
Explore cómo la XRF forense analiza de forma no destructiva residuos de disparos, vidrio, pintura y tierra para vincular a sospechosos con escenas del crimen mediante un análisis elemental rápido in situ.
Aprenda cómo la FRX detecta elementos traza, sus límites a nivel de ppm y cuándo elegirla frente a la ICP-MS para el análisis de materiales. Comprenda los factores clave que afectan la detección.
Aprenda cómo el análisis cualitativo de XRF identifica elementos en una muestra utilizando huellas dactilares de rayos X únicas. Es esencial para la ciencia de materiales y el control de calidad.
EDX vs XRF: Comprenda las diferencias clave en escala, sensibilidad y aplicación. Aprenda qué técnica es mejor para el análisis a granel o el microanálisis.
XRF ofrece un análisis rápido y multielemental de sólidos, mientras que AAS proporciona una medición de un solo elemento de alta sensibilidad en líquidos. Descubra cuál es la mejor opción para su laboratorio.
Micro-XRF no requiere una masa de muestra específica. Descubra cómo el tamaño del punto, la calidad de la superficie y la preparación de la muestra definen el éxito del análisis para un mapeo elemental preciso.
Explore alternativas al grafeno como los TMD, el h-BN, el fosforeno y los MXenes. Encuentre el material 2D adecuado para electrónica, almacenamiento de energía y más.
Descubra por qué el silicio es el principal material semiconductor. Conozca sus ventajas sobre el GaAs, GaN y SiC para aplicaciones informáticas, de RF y de potencia.