La fuente de radiación XRF es la fuente de rayos X o tubo de rayos X dentro de un espectrómetro XRF. Esta fuente genera rayos X que se dirigen a la muestra que se está analizando. Cuando estos rayos X interactúan con la muestra, provocan la expulsión de electrones internos de los átomos de la muestra. Este proceso da lugar a la emisión de rayos X secundarios, conocidos como fluorescencia de rayos X, que se detectan y analizan para determinar la composición elemental de la muestra.
Explicación:
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Generación de la fuente de rayos X: El espectrómetro XRF utiliza una fuente de rayos X, típicamente un tubo de rayos X, para producir rayos X. Estos rayos X se generan cuando se alcanzan niveles altos de radiación. Estos rayos X se generan cuando se aplica un alto voltaje a través de un cátodo y un ánodo dentro del tubo, haciendo que los electrones se aceleren y colisionen con el ánodo, produciendo rayos X tras el impacto.
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Interacción con la muestra: Cuando los rayos X de la fuente inciden sobre la muestra, interactúan con los átomos de la muestra superando la energía de enlace de las capas internas de electrones. Esta interacción provoca la expulsión de electrones de estas capas, creando vacantes.
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Emisión de fluorescencia de rayos X: Para recuperar la estabilidad, el átomo se somete a un proceso en el que los electrones de los niveles de energía más altos descienden para llenar las vacantes creadas por los electrones expulsados. Durante esta transición, se libera energía en forma de fluorescencia de rayos X. La energía de estos rayos X fluorescentes corresponde a la diferencia de niveles de energía entre los estados inicial y final del electrón, que es característica del elemento específico.
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Detección y análisis: La fluorescencia de rayos X emitida es detectada por el detector del espectrómetro. El detector mide la energía y la intensidad de estos rayos X, que se utilizan para generar un espectro. Este espectro muestra picos en las energías correspondientes a los elementos presentes en la muestra, lo que permite el análisis elemental.
Precisión y fiabilidad:
La exactitud del análisis XRF depende en gran medida de la calidad de la fuente de rayos X y de la precisión del detector. Los espectrómetros XRF modernos han mejorado significativamente en sensibilidad y estabilidad, reduciendo la fuente como factor de error significativo. En la actualidad, la preparación de la muestra es la fuente de error más significativa, lo que subraya la importancia de las técnicas de preparación de muestras de alta calidad para obtener resultados analíticos fiables.
- Tipos de espectrómetros XRF:XRF de energía dispersiva (ED-XRF):
- Estos espectrómetros son más sencillos y pueden recoger simultáneamente señales de múltiples elementos, ofreciendo un rango de resolución de 150 eV a 600 eV.XRF de dispersión por longitud de onda (WD-XRF):
Son más complejos y caros, recogen una señal cada vez con mayor resolución, que va de 5 eV a 20 eV, lo que los hace adecuados para análisis elementales más detallados y precisos.
En resumen, la fuente de radiación XRF en un espectrómetro XRF es el tubo de rayos X, que genera rayos X que interactúan con la muestra para producir fluorescencia de rayos X, lo que permite el análisis elemental mediante la detección y el análisis de estos rayos X fluorescentes.
