La muestra mínima necesaria para el análisis XRD (difracción de rayos X) no se menciona explícitamente en el texto proporcionado, que trata principalmente del análisis XRF (fluorescencia de rayos X). Sin embargo, para el análisis XRD, la preparación de la muestra y los requisitos de cantidad pueden deducirse de las prácticas generales en el análisis de materiales. Normalmente, para la DRX es suficiente una pequeña cantidad de muestra, a menudo alrededor de 10-20 mg, si la muestra está finamente molida y homogéneamente distribuida en un portamuestras. El requisito clave para la DRX es que la muestra debe estar en una forma que permita a los rayos X penetrar e interactuar con la estructura cristalina del material, razón por la que a menudo se prepara una capa fina y plana de la muestra.
Para la DRX, la preparación de la muestra implica moler el material hasta obtener un polvo fino para garantizar que la estructura cristalina esté bien representada y que los rayos X puedan interactuar con un gran número de cristalitos. Este proceso de molienda es crucial para conseguir una muestra homogénea, esencial para obtener patrones de DRX precisos y reproducibles. A continuación, el polvo se esparce sobre un portaobjetos de vidrio o un portamuestras, asegurándose de que se distribuye uniformemente y se compacta para minimizar las variaciones de orientación y grosor preferidas.
En resumen, aunque la cantidad específica de 15 g mencionada en el texto es para el análisis por FRX, para la DRX es suficiente una cantidad mucho menor, normalmente unos 10-20 mg de muestra finamente molida y homogéneamente preparada. El método de preparación garantiza que la muestra esté en una forma que permita una interacción eficaz con el haz de rayos X, lo cual es fundamental para obtener patrones de difracción claros e interpretables.
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