En general, se considera que el análisis XRF es fiable y preciso, y a menudo consigue resultados comparables a los métodos de ensayo al fuego. Esta precisión ayuda a evitar las pérdidas derivadas de la adquisición de materiales insuficientemente calibrados o falsificados. En la precisión del análisis XRF influyen varios factores, como la sensibilidad y estabilidad de los instrumentos, las técnicas de preparación de muestras y las características de la propia muestra.
Sensibilidad y estabilidad de los instrumentos:
Los instrumentos XRF modernos han avanzado hasta un punto en el que su sensibilidad y estabilidad ya no son las principales fuentes de error. Estos instrumentos, equipados con algoritmos matemáticos de última generación y electrónica avanzada, pueden proporcionar resultados rápidos y precisos en pocos segundos. Esto los hace ideales para diversas aplicaciones, como el control de calidad en instalaciones de procesamiento de metales y la identificación rápida de grados de aleación.Técnicas de preparación de muestras:
A pesar de los avances en la tecnología de los instrumentos, la precisión del análisis XRF puede verse afectada significativamente por la calidad de la preparación de la muestra. Una preparación incorrecta de la muestra puede dar lugar a resultados inexactos. El proceso de preparación de una muestra para el análisis por FRX puede ser a veces más laborioso y costoso que el propio análisis. Las consideraciones clave en la preparación de la muestra incluyen garantizar que la muestra sea representativa del material que se está analizando y que se prepare de forma que no altere su composición elemental.
Características de la muestra:
El análisis XRF es particularmente sensible a las características de la muestra que se está analizando. Por ejemplo, los picos de emisión de rayos X se producen en longitudes de onda específicas que corresponden a transiciones de electrones dentro de los átomos de la muestra. Estas emisiones se superponen a un fondo continuo de rayos X dispersos procedentes de los electrones exteriores. La profundidad a la que se detectan estas emisiones (normalmente entre 1-1000 µm por debajo de la superficie) puede variar en función del peso atómico de los elementos de la muestra. Los elementos más ligeros son más difíciles de detectar que los más pesados.
Naturaleza no destructiva:
