Las limitaciones del FRX (fluorescencia de rayos X) giran principalmente en torno a la preparación de la muestra y la sensibilidad de profundidad del análisis. Aunque el FRX es una técnica analítica no destructiva y relativamente sencilla, requiere una preparación cuidadosa de la muestra para garantizar resultados precisos. Además, la profundidad a la que pueden detectarse los elementos varía con el peso atómico, lo que afecta al análisis de los elementos más ligeros.
Limitaciones de la preparación de muestras:
El análisis por FRX depende en gran medida de la calidad de la preparación de la muestra. Como ya se ha mencionado, los problemas más comunes en el análisis por FRX ya no están relacionados con la sensibilidad y la estabilidad de los instrumentos, sino más bien con las técnicas de preparación. Por ejemplo, cuando se utiliza la granulación XRF, las consideraciones clave incluyen garantizar que la muestra se homogeneiza como un polvo fino y que la granulación se prepara con una superficie plana y limpia para la medición. Una preparación inadecuada puede dar lugar a resultados inexactos debido a variaciones en la composición elemental de la muestra o a la interferencia de impurezas.Limitaciones de la sensibilidad de profundidad:
El FRX detecta los elementos analizando los rayos X característicos emitidos por los átomos de la superficie a profundidades comprendidas normalmente entre 1-1000 µm. La profundidad de detección depende del peso atómico del elemento; los elementos más ligeros son más difíciles de detectar que los más pesados. Esta sensibilidad a la profundidad puede limitar el análisis de ciertos elementos, especialmente si están presentes en concentraciones más bajas o son más ligeros en peso atómico. Por ejemplo, elementos como el litio, el berilio y el boro, que tienen números atómicos más bajos, podrían no detectarse tan eficazmente como los elementos más pesados.
Conclusión:
