El análisis XRF (fluorescencia de rayos X) suele penetrar en la muestra hasta profundidades de entre 1-1000 µm.
La profundidad de penetración depende del peso atómico de los elementos de la muestra.
Los elementos más ligeros son más difíciles de detectar a niveles más profundos que los elementos más pesados.
Esto se debe a que los rayos X característicos emitidos durante el análisis se deben generalmente a los átomos superficiales a estas profundidades.
La capacidad de detectar elementos a diferentes profundidades es crucial para un análisis preciso.
Afecta a la señal recibida por el espectrómetro XRF.
Los elementos de mayor energía, normalmente los de mayor número atómico, tienen profundidades de escape mayores en una muestra.
Esto significa que pueden detectarse a partir de capas más profundas en comparación con los elementos de menor energía.
Esta sensibilidad a la profundidad es un factor clave en la preparación e interpretación de los resultados de los análisis XRF.
4 Ideas clave
1. Rango de profundidad de penetración
El análisis XRF suele penetrar en la muestra hasta profundidades comprendidas entre 1-1000 µm.
2. Influencia del peso atómico
La profundidad de penetración está influenciada por el peso atómico de los elementos de la muestra.
3. Detección de elementos
Los elementos más ligeros son más difíciles de detectar a niveles más profundos en comparación con los elementos más pesados.
4. Sensibilidad a la profundidad
Los elementos de mayor energía tienen mayores profundidades de escape, lo que significa que pueden detectarse desde capas más profundas.
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