El ensayo por FRX, o ensayo por fluorescencia de rayos X, es una técnica analítica no destructiva utilizada para determinar la composición elemental de los materiales. Funciona exponiendo una muestra a rayos X de alta energía, lo que provoca que los átomos de la muestra se exciten y emitan rayos X secundarios o fluorescentes. Cada elemento emite un espectro único de rayos X fluorescentes, que pueden analizarse para identificar y cuantificar los elementos presentes en la muestra.
Preparación de la muestra:
El proceso comienza con la preparación de la muestra. Dependiendo de la naturaleza del material, la muestra puede extraerse de las capas superficiales del material a granel o tomarse como un fragmento y homogeneizarse hasta obtener un polvo fino. Para muestras más complejas, puede utilizarse una trituradora de mandíbulas para la homogeneización. A continuación, la muestra suele convertirse en un gránulo mediante una prensa hidráulica, lo que ayuda a mantener la integridad de la muestra durante el análisis. En algunos casos, puede emplearse un equipo automático de pesaje y dosificación para acelerar el proceso de preparación de la muestra.Análisis con espectrómetro XRF:
La muestra preparada se analiza con un espectrómetro XRF, que consta de una fuente de rayos X y un detector. La fuente de rayos X genera rayos X de alta energía que se dirigen a la muestra. Cuando estos rayos X interactúan con la muestra, hacen que los átomos emitan rayos X fluorescentes. El detector capta estos rayos X fluorescentes y genera un espectro que muestra picos correspondientes a los distintos elementos de la muestra. La altura de estos picos indica la concentración de cada elemento.
Interpretación de los resultados:
El espectro generado por el espectrómetro XRF se analiza para identificar los elementos presentes y sus respectivas concentraciones. La gama de elementos detectables por FRX suele abarcar desde el sodio (Na) hasta el uranio (U), con niveles de detección que varían en función del instrumento específico y de la disponibilidad de orbitales de electrones en la muestra.Importancia de la preparación de la muestra:
