El límite mínimo de detección para XRF depende de varios factores, incluida la concentración del elemento en la muestra, el tipo de muestra que se analiza y el espectrómetro XRF que se utiliza.
Para la mayoría de los elementos, el FRX puede detectar concentraciones tan bajas como 2-20 ng/cm2. Esto significa que puede detectar cantidades muy pequeñas de elementos en una muestra.
El límite de detección puede variar en función del tipo de muestra. Por ejemplo, las muestras de alimentos pueden tener un límite de detección inferior de 2-4 toneladas, mientras que los productos farmacéuticos pueden requerir un límite de detección superior de 20 toneladas. Los minerales pueden tener un límite de detección aún mayor, de hasta 40 toneladas.
El límite de detección también puede depender de la técnica de preparación de muestras utilizada. Por ejemplo, la técnica XRF de microesferas fundidas, que consiste en moler la muestra hasta un tamaño de partícula fino y comprimirla en un gránulo liso y plano, puede mejorar la detección de emisiones. Sin embargo, esta técnica puede no ser capaz de detectar elementos traza, ya que es necesario diluir la muestra.
La profundidad a la que el FRX puede detectar elementos en una muestra también depende del peso atómico del elemento. Los elementos más ligeros son más difíciles de detectar que los más pesados, y la profundidad de detección suele oscilar entre 1-1000 µm por debajo de la superficie de la muestra.
El tipo de espectrómetro XRF utilizado también puede afectar al límite de detección. Los espectrómetros XRF de dispersión de energía (ED-XRF) son sencillos y fáciles de usar, pero pueden tener una resolución más baja, mientras que los espectrómetros XRF de dispersión de longitud de onda (WD-XRF) son más complejos y caros, pero ofrecen una resolución más alta.
En resumen, el límite mínimo de detección para XRF depende de la concentración del elemento, el tipo de muestra, la técnica de preparación de la muestra, el peso atómico del elemento y el tipo de espectrómetro XRF que se utilice.
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