Las mediciones de espesor de revestimiento por FRX suelen oscilar entre 1 nm y 50 um.
Por debajo de 1 nm, los rayos X característicos no se distinguen del ruido.
Por encima de 50um, el grosor del revestimiento se satura, impidiendo mediciones precisas.
Este rango es crucial para garantizar que los rayos X emitidos por la capa interna puedan penetrar en el revestimiento y alcanzar el detector.
Explicación de 4 puntos clave
1. Gama de espesores XRF
Espesor mínimo de detección: El espesor mínimo detectable para XRF es de aproximadamente 1nm.
Por debajo de este nivel, los rayos X característicos quedan sumergidos en la señal de ruido, haciéndolos inidentificables.
Espesor máximo de detección: El espesor máximo medible es de aproximadamente 50um.
Más allá de éste, el espesor del revestimiento hace que los rayos X emitidos por la capa interna no puedan penetrar en el revestimiento y alcanzar el detector, lo que provoca saturación y mediciones inexactas.
2. Colimador y tamaño del punto
Función de los colimadores: Los colimadores de los analizadores XRF dirigen los rayos X hacia la muestra y limitan el tamaño del punto.
Son esenciales para mantener la precisión de la medición, ya que garantizan que los rayos X sólo interactúen con la zona prevista de la muestra.
Selección del tamaño del colimador: Existen diferentes tamaños de colimadores para optimizar la precisión en función del tamaño de la muestra.
Es importante tener en cuenta la divergencia del haz al seleccionar un colimador, ya que afecta a la precisión de la medición.
3. Tipos de detectores
Contadores proporcionales: Estos detectores utilizan gas inerte ionizado para producir una señal proporcional a la energía absorbida.
Son fiables y muy utilizados en los primeros analizadores de revestimiento.
Detectores de deriva de silicio (SDD): Los SDD son detectores basados en semiconductores que generan una carga relacionada con la cantidad de elementos en la muestra.
Se utilizan comúnmente debido a su alta resolución y eficiencia.
4. Tipos de instrumentos
XRF de sobremesa frente a XRF portátil: Los analizadores XRF de sobremesa son adecuados para medir revestimientos más gruesos y aplicaciones multicapa complejas.
Los dispositivos de mano son más portátiles e ideales para inspecciones en servicio y piezas grandes.
Tecnologías de apertura: Las opciones incluyen colimadores mecánicos y ópticas capilares, elegidas en función del tamaño de la pieza y el espesor del revestimiento.
5. Análisis no destructivo
Técnica XRF: XRF es un método no destructivo que mide los rayos X fluorescentes emitidos por una muestra al ser excitada por una fuente primaria de rayos X.
Esta técnica permite determinar el espesor del revestimiento y del sustrato sin dañar la muestra.
Al comprender estos puntos clave, un comprador de equipos de laboratorio puede tomar decisiones informadas sobre la tecnología XRF adecuada para sus necesidades específicas, garantizando mediciones de espesor de revestimiento precisas y fiables.
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